| 1 |
جایگاه درس در برنامه درسی دوره |
اصلی |
| 2 |
هدف کلی |
آشنایی با
1- میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)
2- میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)
3- میکروسکوپ پروبی روبشی (SPM)
4- اشعه ایکس
5- آنالیز حرارتی
6- طیف‌سنجی الکترونی و یونی برای آنالیز سطح (XPS) و (AES) و (SIMS) |
| 3 |
شایستگی های پایه |
1- میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)
2- میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)
3- میکروسکوپ پروبی روبشی (SPM)
4- اشعه ایکس
5- آنالیز حرارتی
6- طیف‌سنجی الکترونی و یونی برای آنالیز سطح (XPS) و (AES) و (SIMS) |
| 4 |
اهداف یادگیری |
هدف این درس آشنایی دانشجویان کارشناسی ارشد با روش های جدید و پیشرفته آنالیز و شناسایی مواد می باشد. شناسایی این تکنیک ها در انجام پایان نامه دانشجو نقش اساسی را ایفا می نماید. |
| 5 |
روش تدریس |
تئوری
جدول زمان بندی درس
ردیف نمایه ی بخش های درس
هفته ی یکم - بیان مقدمه و توضیح اهداف درس
- میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM): معرفی، اصول و مبانی کار،
هفته ی دوم - میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM): نحوه تشکیل تصویر،
هفته ی سوم - میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM): کاربرد و نمونه سازی،
هفته ی چهارم - میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM): معرفی، اصول و مبانی کار، پراش، نحوه تشکیل تصویر،
هفته ی پنجم - میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM):، کاربرد و نمونه سازی
هفته ی ششم - اشعه ایکس: اصول و مبانی فیزیکی، آشکارسازها، تفرق، پراش، کاربرد و نمونه سازی
هفته ی هفتم - آنالیز شیمیائیXRF با روش EDS و WDS
هفته ی هشتم - آنالیز فازی XRD
هفته ی نهم - میکروسکوپهای پروبی روبشی (SPM)
- میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscopy AFM
هفته ی دهم - میکروسکوپ نیروی جانبی Lateral Force Microscopy LFM
- میکروسکوپ تونلی روبشی Scanning Tunneling Microscopy STM
هفته ی یازدهم - میکروسکوپ نیروی مغناطیسی Magnetic Force Microscopy MFM
- میکروسکوپ نیروی الکتریکی Electric Force Microscopy EFM
- میکروسکوپ گرمایی روبشی Scanning Thermal Microscopy SThM
هفته ی دوازدهم - آنالیز حرارتی Thermal Analysis
هفته ی سیزدهم - آنالیز حرارتی Thermal Analysis
- روش وزن سنجی حرارتی Thermo Gravimetric Analysis (TGA)
هفته ی چهاردهم - روش حرارتی افتراقی Differential Thermal Analysis (DTA)
- روش گرماسنجی روبشی افتراقی Differential Scanning Calorimetry (DSC)
- روش دیلاتومتری Dilatometry
هفته ی پانزدهم 6- طیف‌سنجی الکترونی و یونی برای آنالیز سطح
- طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو X X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
هفته ی شانزدهم - طیف‌سنجی الکترون اوژه Auger Electron Spectroscopy (AES)
- طیف‌سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) Secondary Ion Mass Spectroscopy
هفته ی هفدهم
(آزمون پایانی) |
| 6 |
وظایف دانشجو |
تلاش در جهت یادگیری مطالب با دقت در سر کلاس و مطالعه منابع مختلف |
| 7 |
منبع |
سجادی و صبا - روش های پیشرفته شناخت مواد - 1391
B.D. Cullity and S.R. Stock, Elements of X-ray Diffractions, 2001
J.Goldstein, Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, 2003
A. Kharsheed, Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers, 2011
W. Zhou et al., Scanning Microscopy for Nanotechnology, 2006
D.B. Williams and C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, 2009
M. Purutton and M.M. Elgomati, Scanning Auger Electron Microscopy, 2006
E. Meyer et al., Scanning Probe Microscopy, 2004
|
| 8 |
مواد و امکانات آموزشی |
1- کامپیوتر
2- ویدئوپروژکتور |
| 9 |
نحوه ارزشیابی |
ارزشیابی مستمر - آزمون کیان ترم - آزمون پایان ترم |