| 1 |
میکروسکوپ الکترونی روبشی، فی، اصول و مبانی کار، نحوه تشکیل تصویر، کاربرد و نمونه سازی :(SEM) |
|
| 2 |
معرفی، اصول و مبانی کار، پراش، نحوه تشکیل تصویر، کاربرد و :(TEM) میکروسکوپ الکترونی عبوری نمونه سازی |
|
| 3 |
(SPM) میکروسکوپ پروبی روبشی |
|
| 4 |
اشعه ایکس: اصول و مبانی فیزیکی، آشکارسازها، تفرق، پراش، کاربرد و نمونه سازی، آنالیز شیمیائی ،و XRF |
|
| 5 |
(AFM: Atomic Force Microscopy) میکروسکوپ نیروی اتمی |
|
| 6 |
(LFM:Lateral Force Microscopy( میکروسکوپ نیروی جانبی |
|
| 7 |
(STM: Scanning Tunneling Microscopy) میکروسکوپ تونلی روبشی |
|
| 8 |
(MFM: Magnetic Force Microscopy) میکروسکوپ نیروی مغناطیسی |
|
| 9 |
(EFM:Electric Force Microscopy) میکروسکوپ نیروی الکتریکی |
|
| 10 |
(SThM: Scanning Thermal Microscopy) میکروسکوپ گرمایی روبشی |
|
| 11 |
(DTA: Differential Thermal Analysis) آنالیز حرارتی: آنالیز حرارتی افتراقی |
|
| 12 |
روش گرماسنجی افتراغی |
|
| 13 |
(DSC: Differential Scanning Calorimetry) روبشی افتراقی |
|
| 14 |
)TGA: Thermo Gravimetric Analysis) روش وزن سنجی حرارتی |
|
| 15 |
(Dilatometry) روش دیلاتومتری |
|
| 16 |
طیف سنجی الکترونی و یونی برای آنالیز سطح: روش طیف سنجی فوتوالکترون پرتو |
|
| 17 |
روش (AES: Auger Electron Spectroscopy) روش طیف سنجی الکترون اوژه |
|
| 18 |
(SIMS: Secondary Ion Mass Spectroscopy) طیف سنجی جرمی یون ثانویه |
|
| 19 |
|
|